BEN - odborná literatura s.r.o. je kamenné a internetové knihkupectví specializované na technické knihy.
Metrologie a hodnocení procesů
obj. číslo | 121303 |
---|---|
autor | Tůmová Olga |
vydal / výrobce | BEN - technická literatura |
rozsah / vazba | 232 stran B5 / brožovaná V2 |
vydání | 1. české |
prodáváme od | 13.5.2010 |
ISBN / EAN | 978-80-7300-249-7 9788073002497 |
dostupnost | Skladem |
Cena v kamenném obchodě | 255 Kč |
Internetová cena pro zaslání poštou | 227 Kč |
Aktualizováno 13.5.2010
Popis
obsah | download | reakce | odkazy | keywords |
---|
Publikace pojednává o teoretických problémech měření. V úvodu je přehled charakteristik náhodných procesů. Následuje pohled na procesy měření se zaměřením i na statistický výběr a hodnocení vzorků. Čtenář získá přehled o řešení chyb a nejistot, které jsou nezbytným doplňkem při zpracování výsledků měření. Jsou zde též uvedeny hlavní principy, které se používají při návrhu, měření a vyhodnocení experimentů. Publikace zorientuje čtenáře také v oblasti legální i praktické metrologie.
Historie vydání
- 1. vydání - květen 2010 - 978-80-7300-249-7
- 1. vydání - připravujeme (elektronická kniha ve formátu PDF)
Stručný obsah
- Obecné a teoretické problémy měření
- Základní charakteristiky náhodných procesů
- Metrologie - věda o měření
- Chyby a nejistoty měření
- Teorie a vyhodnocování experimentů
- Statistické řízení kvality procesů
- Měřicí procesy a jejich analýza
Download
- podrobný obsah - ve formátu PDF
- ukázka knihy - ve formátu PDF
- update - zatím žádný není
Recenze lektorů a reakce čtenářů
- Nezávislá recenze knihy - ve formátu PDF
- Recenze na HW.cz
Odkazy
- Děkujeme společnostem, které podpořily vydání knihy
- www.palstat.cz - PALSTAT s. r. o.
- www.spectris.cz - SPECTRIS Praha spol. s r.o.
- www.statsoft.cz - StatSoft ČR
Keywords
-
obecná charakteristika
Metrologie, metronomie, kalibrace -
obsah knihy
Obecné a teoretické problémy měření, Signál a informace, Měření a neurčitost, Model procesu měření a měřicího systému, Základní úlohy měření, Základní charakteristiky náhodných procesů, Distribuční funkce, Hustota pravděpodobnosti, Momenty obecné, Momenty centrální, Momenty normované, Charakteristiky spojitých rozdělení, Normální (Laplace-Gaussovo) rozdělení, Normované normální rozdělení, Rovnoměrné rozdělení spojité, Logaritmicko-normální rozdělení, Exponenciální rozdělení, Dvojitě exponenciální (Laplace) rozdělení, Weibullovo rozdělení, Rayleighovo rozdělení, Rozdělení gama, Rozdělení, Rozdělení beta, Rozdělení t (Studentovo), Rozdělení F (Fisherovo-Snedecorovo), Cauchyho rozdělení, Maxwellovo rozdělení, Paretovo rozdělení, Charakteristiky diskrétních rozdělení, Binomické rozdělení, Alternativní (Bernoulliho) rozdělení, Negativní binomické rozdělení, Geometrické rozdělení, Poissonovo rozdělení, Hypergeometrické rozdělení, Rovnoměrné diskrétní rozdělení, Metrologie – věda o měření, Členění metrologie, Organizace působící v oblasti metrologie ČR a jejich hlavní úkoly, Legislativní a technické dokumenty v metrologii, Zákony, Vyhlášky Ministerstva průmyslu a obchodu, Normy ČSN z oblasti metrologie, Nařízení vlády, Rezortní předpisy z oblasti metrologie, Terminologie v metrologii, Metrologie a řízení kvality ve výrobním procesu a službách, Zákony a nařízení vlády, Normy ČSN pro zabezpečování kvality, Normy řady ISO 9000, Další související normy, Podniková metrologie, Metrologická pracoviště, Povinnosti pracovníků a odborných útvarů, Veličiny a jednotky, Fyzikální veličiny, Technické veličiny, Měřicí metody, Principy etalonáže, Základní pojmy, Návaznost etalonů a měřidel, Etalonáž základních jednotek SI soustavy, Etalonáž délky, Etalonáž hmotnosti, Etalonáž času, Etalonáž elektrických veličin, Etalonáž teploty, Etalonáž svítivosti, Ověřování a kalibrace měřidel, Ověřování měřidel, Kalibrace měřidel, Chyby a nejistoty měření, Přesnost měření a měřicích přístrojů, Rozdělení chyb podle příčiny vzniku, Rozdělení chyb podle zdrojů, Rozdělení chyb podle způsobu výskytu, Vyhodnocení náhodných chyb, Chyby měření, Chyby naměřených hodnot, Chyby přímých měření, Chyby nepřímých měření, Výsledky opakovaných měření, Měřicí přístroje analogové a digitální, Chyby analogových přístrojů, Chyby digitálních přístrojů, Ostatní elektrické měřicí přístroje, Nejistoty měření, Standardní nejistota uA, Standardní nejistota uB, Kombinovaná standardní nejistota – uC, Rozšířená (celková) standardní nejistota – U, Závěr, Teorie a vyhodnocování experimentů, Průzkumová analýza dat, Určování odlehlých hodnot, Test ±4s, Test Dixonův, Test Grubbsův (při neznámé směrodatné odchylce), Test při známé směrodatné odchylce, Test David-Hartleyho, Test Shapiro-Wilksův, Statistické charakteristiky, Charakteristiky polohy, Charakteristiky variability, Charakteristiky šikmosti, Charakteristiky špičatosti, Problematika malých výběrů, Testování hypotéz, Testy významnosti, Testy hypotéz pro parametry µ a s2 normálního rozdělení N (µ, s2) jednoho souboru, Testy hypotéz o rovnoměrnosti parametrů normálního rozdělení N (µ, s2) dvou souborů, Testy parametrů více než dvou souborů, Tvorba experimentů, Faktorová organizace pokusů, Jednofaktorový experiment, Dvoufaktorový experiment, Třífaktorový experiment, Přehled dalších typů experimentů, Analýza rozptylu, Analýza rozptylu – jednofaktorový experiment, Analýza rozptylu – dvoufaktorový experiment, Analýza rozptylu – třífaktorový experiment, Metody mnohonásobných porovnávání, Scheffého metoda, Tukeyova metoda, Opakovatelnost a reprodukovatelnost měření v laboratořích, Statistické řízení kvality procesů, Charakteristika a princip statistické regulace, Typy regulačních diagramů, Shewhartovy regulační diagramy, Regulační diagramy pro aritmetický průměr s výstražnými mezemi, Přejímací regulační diagramy, Diagramy CUSUM, Hodnocení způsobilosti a výkonnosti procesů, Ukazatel způsobilosti PCI , Ukazatelé způsobilosti Cp, Cpk a Cpm, Ukazatelé výkonnosti Pp a Ppk, Bootstrapping a konfidenční intervaly, Měřicí procesy a jejich analýza, Systém managementu měření, Proces měření, Měřicí a zkušební zařízení (M&TE), Metrologická konfirmace, Požadavky, Analýza systému měření, Základní pojmy a charakteristiky, Kombinované charakteristiky -
rejstřík knihy
akreditace, ampér, analýza dimenzionální průzkumová rozptylu, systému měření, teoretická, apobetika, autorizace, autorizovaná metrologická střediska, bit, bootstrapping, candela, celková chyba měření, centil, certifikace, certifikovaný referenční materiál, c-diagram, čas atomový efemeridní světový, světový koordinovaný, čtverec latinský řeckolatinský, decil, délka, diagram CUSUM přejímací regulační Shewhartův regulační, distribuční funkce, DOE design of experiments, etalon cestovní mezinárodní pracovní primární referenční samostatný sekundární skupinový státní transferový, evidence, experiment aktivní dílčí faktorový dvoufaktorový dvouúrovňový extrémní jednofaktorový navrhování pasivní přípravný sekvenční třífaktorový tříúrovňový, faktor šumový, fuzzy, graf krabicový kvantilový kvantil-kvantilový P – P pravděpodobnostní Q – Q rankitový vrubový, GRR, hierarchický návrh, hmotnost, homogenita, hustota pravděpodobnosti, hypotéza alternativní nulová, charakteristika polohy šikmosti špičatosti variability, chyba absolutní členů čtení experimentální hrubá krajní maximální dovolená měření měřicího přístroje metody, náhodná, nepřímého měření, pravděpodobná, prostá, přídavná, přímého měření, relativní, reziduální, střední kvadratická, systematická, základní, 1. druhu, 2. druhu, informace, informační entropie, informační řetězec, interakce, interval kalibrace etalonu konfidenční, jakostní znak, kalibrace, kalibrační postup, kelvin, kilogram, klasifikace měřidel, koeficient, korelace, rozšíření, variační, korekce (oprava), kritický obor, kvartil, linearita, malý výběr, management měření, medián, měřený objekt, měřicí metoda, absolutní, diferenční, kompenzační, nepřímá, nulová, přímá, relativní, substituční, transpoziční, výchylková, měřicí přístroj, měřicí systém, měřicí transduktor, měřidla ověřená pracovní nestanovená stanovená, stanovená, metoda Scheffého, Tukeyova, metr, metrolog, metrologická konfirmace, metrologická spolehlivost etalonu, metrologické pracoviště, metrologický pořádek, metrologie, aplikovaná, legální, obecná, podniková, státní, teoretická, mezinárodní teplotní stupnice, míra nesoběstačná, soběstačná, šikmosti, špičatosti, množství informace, model experimentu, modus, mol, moment centrální, moment normovaný, moment obecný, MSA measurement system analysis, náhodný proces, náhodný vliv, náhodný výběr, nařízení vlády, návaznost, nejistota kombinovaná standardní měření rozšířená (celková) typu A typu B, neshodná jednotka, nestrannost, neurčitost, norma ČSN, np-diagram, obor přijetí, odezva, odlehlá hodnota, opakovatelnost, operátor, osvětlení, ověřování následné prvotní, paradigmatický přístup, plánování, posuzování shody výrobku, pragmatika, pravdivost, precisnost, predikční proměnná, proces měření měřicí metrologické konfirmace výrobní, prokazování škody, proměnlivost, protokol, průměr aritmetický geometrický harmonický kvadratický podskupiny výběrový, přesnost, přetížitelnost etalonu, převodník, p-diagram, regulace měřením, srovnáváním, statistická, regulační diagram měřením srovnáváním, regulační mez, reprodukovatelnost, revize, rezortní předpis, riziko chybějícího signálu zbytečného signálu, rozdělení alternativní (Bernoulliho), beta, binomické, Cauchyho diskrétní, dvojitě exponenciální (Laplace), exponenciální, F (Fisherovo-Snedecorovo), gama, geometrické, hypergeometrické, Logaritmicko-normální, Maxwellovo, negativní binomické, normální (Laplace-Gaussovo), normované normální, Paretovo, Poissonovo, Rayleighovo, rovnoměrné, diskrétní, spojité, t (Studentovo), Wei, rozlišovací schopnost systému, rozpětí decilové interkvartilové mezikvartilové percentilové, rozptyl, mezi třídami, mezilaboratorní, opakovatelnosti, uvnitř tříd, vnitrolaboratorní, výběrový, R&R měřidla, řád podnikové metrologie, sekunda, sémantika, shannon, shodnost, síla testu, slovník, směrodatná odchylka opakovatelnosti reprodukovatelnosti, správnost, stabilita, statistická regulace, statistika, strannost, středisko kalibrační služby, střední hodnota, stupně volnosti, svítivost, syntaxe, systém managementu kvality, systém managementu měření, systematický vliv, technická způsobilost, technický požadavek, technický předpis, teorie informace, teorie měření, teorie míry, teorie náhodných procesů, teorie pravděpodobnosti, teplota absolutní, terminologie, termodynamická stupnice, termodynamika, test Bartlettův Dixonův dvouvýběrový Grubbsův párový Shapiro-Wilksův významnosti ±4s, testované kritérium, toleranční mez, třída přesnosti, ukazatel výkonnosti způsobilosti Taguchiho, u-diagram, vada výrobku, variabilita, dlouhodobá inherentní, krátkodobá, mezi podskupinami polohy rozptylu systému uvnitř podskupin vnitroskupinovou 1. typu 2. typu, veličina elektrická, fyzikální, náhodná, odvozená, technická, základní, vlhkost, výběrová směrodatná odchylka, výběrový koeficient korelace r, výběrový soubor, výrobce, výrobek, bezpečný, vyvážený neúplný blok, vzorkování, vztažná podmínka, základní soubor, záměrný výběr, zkušební a kalibrační laboratoř, znáhodněný blok, způsobilost měřicího přístroje měřidel
URL adresa
domovská stránka této knihy/zboží na Internetu = trvalá a neměnná internetová adresa:http://shop.ben.cz/cz/121303-metrologie-a-hodnoceni-procesu.aspx